AFM i STM
AFM odnosi się do mikroskopu sił atomowych, a STM do skaningowego mikroskopu tunelowego. Rozwój tych dwóch mikroskopów uważany jest za rewolucję w dziedzinie atomów i molekuł.
Mówiąc o AFM, przechwytuje precyzyjne obrazy przesuwając nanometrową końcówkę na powierzchni obrazu. STM przechwytuje obrazy za pomocą kwantowego tunelowania.
Spośród dwóch mikroskopów jako pierwszy opracowano skaningowy mikroskop tunelowy.
W przeciwieństwie do STM, sonda ma bezpośredni kontakt z powierzchnią lub oblicza początkowe wiązanie chemiczne w AFM. Obrazy STM pośrednio przez obliczenie tunelowania o stopniu kwantowym między sondą a próbką.
Kolejną różnicą, którą można zauważyć jest to, że końcówka w AFM dotyka powierzchni delikatnie dotyka powierzchni, podczas gdy w STM końcówka jest trzymana w niewielkiej odległości od powierzchni.
W przeciwieństwie do STM, AFM nie mierzy prądu tunelowania, ale jedynie mierzy niewielką siłę między powierzchnią a wierzchołkiem.
Zauważono również, że rozdzielczość AFM jest lepsza niż STM. Właśnie dlatego AFM jest szeroko stosowany w nanotechnologii. Mówiąc o zależności między siłą a odległością, AFM jest bardziej złożony niż STM.
Podczas skanowania tunelowanie mikroskop jest zwykle stosowany do przewodów, mikroskop sił atomowych ma zastosowanie do obu przewodów i izolatorów. AFM dobrze pasuje do środowisk ciekłych i gazowych, podczas gdy STM działa tylko w wysokiej próżni.
W porównaniu do STM, AFM zapewnia większy bezpośredni pomiar wysokości kontrastu topograficznego i lepsze właściwości powierzchni.
streszczenie
1. AFM rejestruje precyzyjne obrazy, przesuwając nanometrową końcówkę na powierzchni obrazu. STM przechwytuje obrazy za pomocą kwantowego tunelowania.
2. Sonda ma bezpośredni kontakt z powierzchnią lub oblicza początkowe wiązanie chemiczne w AFM. Obrazy STM pośrednio przez obliczenie tunelowania o stopniu kwantowym między sondą a próbką.
3. Końcówka w AFM dotyka powierzchni delikatnie dotyka powierzchni, podczas gdy w STM końcówka jest trzymana w niewielkiej odległości od powierzchni.
4. Rozdzielczość AFM jest lepsza niż STM. Właśnie dlatego AFM jest szeroko stosowany w nanotechnologii.
5. Podczas skanowania tunelowanie Mikroskop jest zazwyczaj stosowany do przewodów, mikroskop sił atomowych ma zastosowanie zarówno do przewodów, jak i izolatorów.
6. AFM dobrze pasuje do środowisk ciekłych i gazowych, podczas gdy STM działa tylko w wysokiej próżni.
7. Z dwóch mikroskopów jako pierwszy opracowano skaningowy mikroskop tunelujący.
